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(2). 平均/標準差（X-bar/S）：固定及變動分組樣本數。
(3). 個別值/移動全距（X/MR）。
(4). 指數加權移動平均/個別值及平均值（EWMA/R）：對於發現製程異常造成小幅度的偏移，特別有效。
(5). 管制界限可自行定義或由系統自動計算。
(6). 可在異常圖點上註記異常原因和矯正行動。
‧計數值管制圖：當生產過程發生異常，導致不良數或不良率不穩定時，透過計數值管制圖可即時反應出來並
提供改善的契機，以保證不良數或不良率持續處於穩定狀態。
(1). 不良率p。
(2). 不良數np。
(3). 缺點數c。
(4). 單位缺點數u。
- 製程能力分析：評估計量值的整體製程能力表現。
(1). 直方圖。
(2). 製程能力指數：標準差、全距、不良率 ppm、 k（或Ca）、Cpk、Cp、Cpm、Cpu、Cpl、Cr、Ppk、Pp、Ppm、Ppu、Ppl、Pr。
柏拉圖
(1). 不良數/缺點數柏拉圖：統計出哪些計數值不良項目發生的頻率最高，然後針對這些關鍵少數的不良項目進行個個擊破，以達到事半功倍、大幅降低整體不良的改善功效。
(2). 計數值分層柏拉圖：統計出計數值的不良數或不良率在哪些情況下發生的頻率最高，然後針對這些關鍵少
數的情況進行個個擊破，以達到事半功倍、大幅降低整體不良的改善功效。
(3). 原因柏拉圖。
(4). 行動柏拉圖。
(5). 違反規則柏拉圖。
‧推移圖：
(1). 製程能力指數推移圖：監控計量值的整體製程能力表現Cpk、Cp、Cpm、Cpu、Cpl、Cr、Ppk、Pp、Ppm、
Ppu、Ppl、Pr等的日、週、月趨勢變化，是否已超出自訂的標準值。
(2). 計數值推移圖：監控不良率p、不良數np、缺點數c、單位缺點數u等的日、週、月趨勢變化，是否已超出自訂的
標準值。
若超出，可啟動異常通知功能，以及時採取改善措施。
計量值原始數據圖（Run chart）。
自相關係數圖（Autocorrelation chart）。
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